走査電子顕微鏡

走査電子顕微鏡（SEM）は電子束を用いて試料表面を観察する手法です。自動車サイバーセキュリティにおいては、半導体チップの物理的な欠陥や改竄の検知に活用され、ハードウェアレベルの信頼性担保に不可欠な技術です。